当前位置:首页  >  产品展示  >  恒温恒湿试验箱  >  恒温恒湿  >  LQ-TH-100F芯片恒温恒湿测试箱

芯片恒温恒湿测试箱
参考价:¥13600

型号:LQ-TH-100F

更新时间:2023-09-07  |  阅读:738

详情介绍

芯片恒温恒湿测试箱常用于中小大型等企业及生产厂家试验室做试验用的,所以也可以高精度恒温恒湿试验箱。精度是测量值与真值的接近程度。高精度恒温恒湿箱是指试验箱的温度分布均匀度非常精准,能满足标准要求的精度。

工作室内箱尺寸宽*高*深(cm): 40*50*40;50*50*40;50*60*50;50*75*60;60*85*80;100*100*800;100*100*100。

此类设备温度解析精度为0.01℃,湿度解析精度为0.1%R.H,温度控制精度为±0.2℃,湿度控制精度为±2%R.H,温度均匀度为±2℃,湿度均匀度为≤±3%R.H(+2、-3%RH),温度波动度为±0.5℃,湿度波动度:±2%,以上均为行业标准要求的精度指标,柳沁产品保证达到。

芯片恒温恒湿测试箱执行标准:

性能指标符合GB5170、2、3、5、6-2008 《电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法低温、高温、恒定湿热、交变湿热试验设备》的要求。

GJB150.3(ML-STD0-810D)高温试验方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。

GJB150.9-1986《设备环境试验方法:湿热试验》。

GJB4.5-1983《船舶电子设备环境试验恒定湿热试验》。

电工电子产品基本环境试验规程 试验A:低温试验方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)。

电工电子产品基本环境试验规程 试验B:高温试验方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)。

电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法GB/T 2423.3-2008(IEC68-2-3)。

电工电子产品基本环境试验规程 试验Da:交变湿热试验方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)。

50a3e3d6c21ae3d970fad4d9346f12e.jpg


 

 

  • * 姓名:

  • * 电话:

  • * 单位:

  • * 验证码:

  • * 留言内容:

电话 询价

产品目录